HBM3 및 DRAM 등 차세대 고성능 메모리 반도체의 웨이퍼 테스트를 위한 전용 프로브카드로, 미세 공정 대응과 대량 병렬 테스트가 가능한 구조를 갖추고 있습니다. HBM3E 등 최신 규격 대응 제품도 개발 중이며, 고속·고집적 메모리의 신뢰성 평가와 불량 선별에 최적화되어 있습니다. 국내외 메모리 제조사에 공급되며, 전방위적 연구개발로 제품 라인업을 확장하고 있습니다.
HBM3E Wafer Tester는 고대역폭메모리(HBM) 생산 공정에서 웨이퍼 단위의 전기적 특성과 품질을 정밀하게 검사하는 첨단 장비입니다. 최신 HBM3E 규격을 지원하며, 대용량 데이터 처리와 고속 신호 측정이 가능해 차세대 AI·고성능 컴퓨팅용 메모리 생산에 필수적입니다. SK하이닉스 등 글로벌 반도체 기업에 공급되어 신뢰성과 생산성 향상에 기여합니다.
HBM3E는 SK하이닉스가 세계 최초로 양산에 성공한 차세대 초고속·고대역폭 메모리 반도체로, 여러 개의 D램을 12단 적층하여 기존 D램 대비 월등한 데이터 처리 속도와 에너지 효율을 제공합니다. AI 서버, 고성능 컴퓨팅, 데이터센터 등에서 대규모 연산과 실시간 데이터 처리가 필요한 환경에 최적화된 제품으로, 글로벌 AI 메모리 시장에서 독보적인 경쟁력을 자랑합니다.
