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 웨이퍼테스트  제품/서비스 검색 결과 : 12

아카이브

제품/서비스명

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설명
Driver IC Bump & Wafer Test(주)엘비루셈
범핑공정웨이퍼테스트반도체검사디스플레이IC품질보증
Driver IC Bump & Wafer Test는 디스플레이용 반도체 칩과 기판을 전기적으로 연결하고, 칩의 성능을 웨이퍼 상태에서 정밀하게 검사하는 핵심 공정 서비스입니다. Gold 소재의 범프를 형성하여 열 전달과 전기적 연결을 극대화하며, 웨이퍼 테스트를 통해 제품의 신뢰성과 품질을 보장합니다. LB루셈은 첨단 범핑 및 테스트 기술을 기반으로 고객 맞춤형 솔루션을 제공, 디스플레이 산업의 고도화에 기여하고 있습니다.
반도체 TEST PROBE PIN (MEGATOUCH Probe Pin)(주)메가터치
반도체검사장비프로브핀비메모리반도체후공정웨이퍼테스트첨단소재부품
비메모리 반도체 후공정(Wafer Test 및 Final Test)에 사용되는 MEGATOUCH Probe Pin은 미세 피치 대응 설계와 정밀 가공 기술이 집약된 핵심 검사 부품입니다. 높은 신뢰성과 반복 접촉 성능으로 글로벌 반도체 제조사의 품질 기준을 만족시키며 다양한 패키징 및 웨이퍼 검사 환경에서 폭넓게 활용됩니다.
반도체 프로브 장비(주)티원시스템
반도체검사프로브카드웨이퍼테스트자동화장비품질관리
첨단 반도체 생산 공정에서 웨이퍼의 전기적 특성과 결함을 정밀하게 검사하는 장비로, 고속·고정밀 측정 기능과 자동화 시스템을 갖추고 있습니다. 다양한 반도체 칩의 품질 보증 및 생산 효율성 향상에 필수적인 솔루션을 제공합니다. 글로벌 반도체 제조사와의 경쟁에서도 인정받는 기술력을 바탕으로, 신뢰성 높은 검사 환경을 구현합니다.
Probe Card (프로브카드)(주)이큐이엔지
반도체검사프로브카드웨이퍼테스트TCPCOF
이큐이엔지의 Probe Card는 반도체 제조공정(FAB)에서 웨이퍼 또는 필름 형태로 조립이 완료된 제품(TCP, COF 등)의 전기적 특성을 정밀하게 검사하는 핵심 장치입니다. 고정밀 PCB에 니들(NEEDLE)을 에폭시로 고정하여, 다양한 반도체 칩의 테스트 요구에 맞춘 맞춤형 설계와 우수한 내구성을 제공합니다. 신뢰성 높은 검사 성능과 빠른 테스트 사이클로 반도체 품질 향상과 생산성 극대화에 기여합니다.
Universal Probe Card(주)대덕피엔씨
프로브카드반도체검사웨이퍼테스트IC테스트전자계측
Universal Probe Card는 다양한 반도체 웨이퍼 테스트에 적용 가능한 범용 프로브 카드로, 미세 패턴의 정밀 접촉과 높은 반복 사용성을 자랑합니다. 대덕피엔씨의 프로브 카드는 고집적 회로(IC) 검사 공정의 생산성과 정확도를 높여, 반도체 제조사의 품질 경쟁력을 강화합니다.
프로브 카드(주)비이링크
프로브카드웨이퍼테스트반도체검사솔루션팹리스지원정밀측정장비
프로브 카드는 웨이퍼 단계에서 각종 반도체 칩의 전기적 특성을 정밀하게 검사하기 위한 핵심 장비입니다. 미세 패턴 설계와 고내구성 소재를 적용하여 반복 테스트 환경에서도 뛰어난 신뢰성과 정확도를 제공합니다. 비이링크는 고객 요구에 맞춘 커스터마이징과 빠른 대응력으로 국내외 파운드리 및 팹리스 업체에 최적의 검사 솔루션을 제공합니다.
Wafer Chuck Control (웨이퍼 척 컨트롤)(주)디이에스
웨이퍼테스트척시스템반도체공정장비열제어솔루션생산자동화
Wafer Chuck Control 시스템은 6인치부터 12인치까지 다양한 크기의 웨이퍼를 정밀하게 제어하며 Hot & Cold Chuck 옵션을 통해 고온·저온 환경에서 안정적인 웨이퍼 테스트가 가능합니다. 매뉴얼 프로브 척 및 컨트롤러가 포함되어 있어 반도체 제조공정의 생산성과 품질 향상에 기여합니다.
Probe Card (프로브 카드)(주)코리아인스트루먼트
반도체검사프로브카드웨이퍼테스트전자부품반도체장비
반도체 웨이퍼 테스트 공정에 필수적인 Probe Card는 미세한 전기 신호를 정확하게 전달하여 반도체 칩의 품질과 성능을 신속하게 검사할 수 있도록 설계된 첨단 검사 장치입니다. 코리아인스트루먼트의 Probe Card는 고집적, 고속, 고신뢰성 테스트 환경에 최적화되어 있으며, 다양한 반도체 패키지와 테스트 요구에 맞춘 맞춤형 설계와 정밀한 제조 기술로 글로벌 반도체 산업 현장에서 높은 평가를 받고 있습니다.
Probe Card (프로브카드)코리아인스트루먼트(주)
반도체검사프로브카드웨이퍼테스트테스트장비전자부품
반도체 웨이퍼 검사 공정에 필수적인 Probe Card는 집적회로나 디스플레이 드라이버 IC 등 다양한 반도체 칩의 전기적 특성을 정밀하게 측정하는 데 사용됩니다. 코리아인스트루먼트(주)는 Cantilever, MEMS, Vertical 등 다양한 구조의 프로브카드를 자체 개발하여 고집적·미세 패턴 반도체 테스트에 최적화된 솔루션을 제공합니다. 높은 내구성과 정밀도를 바탕으로 글로벌 반도체 제조사의 품질 요구를 충족하며, 고객 맞춤형 설계와 신속한 기술 지원으로 신뢰받고 있습니다.
HBM3/DRAM용 프로브카드(주)마이크로투나노
HBM3DRAM메모리반도체웨이퍼테스트반도체부품
HBM3 및 DRAM 등 차세대 고성능 메모리 반도체의 웨이퍼 테스트를 위한 전용 프로브카드로, 미세 공정 대응과 대량 병렬 테스트가 가능한 구조를 갖추고 있습니다. HBM3E 등 최신 규격 대응 제품도 개발 중이며, 고속·고집적 메모리의 신뢰성 평가와 불량 선별에 최적화되어 있습니다. 국내외 메모리 제조사에 공급되며, 전방위적 연구개발로 제품 라인업을 확장하고 있습니다.
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