고온(83~125℃) 환경에서 반도체 칩에 열적·전기적 스트레스를 가해 초기 불량을 선별하는 핵심 검사장비용 보드로, 메리테크는 국내 최초로 국산화에 성공했으며 삼성전자 등 주요 반도체 제조사에 공급하고 있습니다. 이 제품은 다양한 반도체 모델별 맞춤 설계가 가능하며, 신뢰성 높은 품질과 지속적인 기술개발로 업계에서 인정받고 있습니다.
번인보드는 반도체 칩의 내구성과 신뢰성을 검증하기 위한 장시간 고온·고전압 테스트용 보드입니다. 다양한 패키지와 핸들러에 맞춰 설계되며, 고품질 소재와 정밀 가공 기술로 신뢰성 높은 테스트 환경을 제공합니다. 반도체 수율 향상과 불량률 감소에 기여하는 핵심 검사 장비입니다.
Burn-In Board는 DRAM, NAND 등 다양한 메모리 및 비메모리 반도체의 신뢰성 검증을 위한 맞춤형 테스트 기판입니다. 고객의 요구에 따라 다양한 설계와 사양으로 제작되며, 고밀도 실장과 효율적인 테스트 환경을 제공합니다. 초기 불량 검출과 제품 수율 향상에 필수적인 핵심 부품입니다.
메모리 및 로직 반도체의 번인 테스트를 위한 전용 보드로, 다양한 패키지와 인터페이스를 지원합니다. 고온·고전압 환경에서의 안정적인 신호 전달과 내구성을 보장하며, 대량 생산 환경에서도 일관된 품질을 유지할 수 있도록 설계되었습니다. 번인 시스템과의 완벽한 호환성을 자랑합니다.