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 반도체신뢰성평가  제품/서비스 검색 결과 : 1건

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Chorus 시리즈 (DRAM/Flash 모니터링 번인 테스터)(주)네오셈
DRAM번인터스터플래시메모리검사기기실시간데이터분석장치생산라인품질관리반도체신뢰성평가
Chorus 시리즈는 DRAM 및 Flash 메모리 패키지 전용 모니터링 기능을 갖춘 번인(Burn-In) 테스터로 실시간 데이터 수집과 분석이 가능해 생산라인 품질관리에 최적화되어 있습니다. 다양한 온습도 조건에서 안정적인 동작 검증과 불량 조기선별 기능을 제공합니다.
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