(주)네오셈

첨단 SSD 테스트 하드웨어, 소프트웨어, 환경 챔버를 하나의 플랫폼에 통합한 네오셈의 대표 SSD 검사장비입니다. U.2, U.3, M.2 등 다양한 폼팩터와 Gen3·Gen4 인터페이스를 지원하며 최대 384개의 DUT(시험 대상 장치) 동시 테스트가 가능합니다. 온도(10~70℃), 습도(15~85%) 조건에서 신뢰성 및 성능 검증을 자동화하여 대량 생산과 엔지니어링 모두에 적합합니다.

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DRAM 및 Flash 메모리 패키지용으로 설계된 BX620은 고온·고전압 환경에서 칩의 내구성과 초기 불량을 선별하는 번인(Burn-In) 테스트 장비입니다. 최대 200MHz 패턴 발생기와 타이밍 컨트롤러를 탑재해 정밀하고 효율적인 대량 번인 공정이 가능하며 자동차·서버 등 고신뢰성이 요구되는 분야에 필수적입니다.

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Chorus 시리즈는 DRAM 및 Flash 메모리 패키지 전용 모니터링 기능을 갖춘 번인(Burn-In) 테스터로 실시간 데이터 수집과 분석이 가능해 생산라인 품질관리에 최적화되어 있습니다. 다양한 온습도 조건에서 안정적인 동작 검증과 불량 조기선별 기능을 제공합니다.

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