메모리번인테스터 제품/서비스 검색 결과 : 1건

아카이브	제품/서비스명	기업명	태그	설명
	BX620 (메모리 번인(Burn-In) 테스터)	(주)네오셈	메모리번인테스터DRAM검사장비반도체후공정장비품질관리시스템서버메모리	DRAM 및 Flash 메모리 패키지용으로 설계된 BX620은 고온·고전압 환경에서 칩의 내구성과 초기 불량을 선별하는 번인(Burn-In) 테스트 장비입니다. 최대 200MHz 패턴 발생기와 타이밍 컨트롤러를 탑재해 정밀하고 효율적인 대량 번인 공정이 가능하며 자동차·서버 등 고신뢰성이 요구되는 분야에 필수적입니다.

10 개 / 쪽