MEMS핀  제품/서비스 검색 결과 : 1건

20:1의 고종횡비와 100μm 높이, 5μm 선폭의 정밀 구조를 구현한 반도체 검사용 MEMS 마이크로 핀은 AI, HBM 등 고속·고집적 반도체의 신뢰성 높은 테스트를 지원합니다. 고체 양극산화막 기반의 독자적 제조공정으로 기존 대비 변형이 적고, 100GHz 이상의 고주파 대역에서도 신호 손실 없이 사용할 수 있습니다. 멀티 빔 형성 및 힘 제어 용이성으로 DRAM, NAND 등 메모리 반도체 검사에 최적화된 혁신적 제품입니다.