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Prowell의 포고 핀은 IT 기기 및 반도체 테스트 공정에서 핵심적으로 사용되는 고정밀 접촉 부품입니다. 미세 피치 기술을 적용해 시스템 반도체, 모바일 SoC, RF칩 등 다양한 첨단 칩의 신뢰성 높은 전기적 연결과 반복적인 테스트 환경에 최적화되어 있습니다. 해외 유수 반도체 제조사에도 공급되는 글로벌 경쟁력을 갖춘 제품입니다.

반도체 디바이스 및 칩(IC)의 신뢰성과 성능을 검증하는 데 필수적인 테스트 소켓은, 다양한 반도체 패키지에 맞춤형으로 설계되어 고정밀·고내구성의 접촉 성능을 제공합니다. 선테스트코리아는 최신 기술을 적용한 테스트 소켓 솔루션을 통해 반도체 후공정의 품질과 생산성을 극대화하며, 고객의 다양한 요구에 맞춘 맞춤형 제품 개발로 글로벌 반도체 산업의 경쟁력을 높이고 있습니다.

Universal Probe Card는 다양한 반도체 웨이퍼 테스트에 적용 가능한 범용 프로브 카드로, 미세 패턴의 정밀 접촉과 높은 반복 사용성을 자랑합니다. 대덕피엔씨의 프로브 카드는 고집적 회로(IC) 검사 공정의 생산성과 정확도를 높여, 반도체 제조사의 품질 경쟁력을 강화합니다.