DRAM테스트  제품/서비스 검색 결과 : 2건

20:1의 고종횡비와 100μm 높이, 5μm 선폭의 정밀 구조를 구현한 반도체 검사용 MEMS 마이크로 핀은 AI, HBM 등 고속·고집적 반도체의 신뢰성 높은 테스트를 지원합니다. 고체 양극산화막 기반의 독자적 제조공정으로 기존 대비 변형이 적고, 100GHz 이상의 고주파 대역에서도 신호 손실 없이 사용할 수 있습니다. 멀티 빔 형성 및 힘 제어 용이성으로 DRAM, NAND 등 메모리 반도체 검사에 최적화된 혁신적 제품입니다.

MT6122는 DRAM, NAND Flash 등 다양한 메모리 반도체 웨이퍼의 불량 여부를 고속·고정밀로 판별하는 첨단 메모리 웨이퍼 테스터입니다. 전공정을 마친 웨이퍼를 셀 단위로 전수 검사하여 칩의 품질과 생산 효율성을 극대화하며, 대용량 데이터 처리와 AI 기반 분석 기능을 탑재해 차세대 반도체 제조 환경에 최적화된 솔루션을 제공합니다. 삼성전자 등 글로벌 주요 고객사에 공급되며, 국내외 시장에서 높은 신뢰도를 확보하고 있습니다.