세계 최초로 개발된 2파장 주파수 스캔 PSI기술(FSPSI)을 적용한 고속·고정밀 3차원 형상 측정기입니다. 반도체 웨이퍼, FPD, Flip chip, LED, MEMS 등 다양한 산업용 소재의 나노급 표면 형상과 두께를 비접촉 방식으로 정밀하게 측정할 수 있습니다. Motion, Vision, S/W 융합기술을 바탕으로, 고객의 다양한 어플리케이션에 맞춤형 Total Solution을 제공합니다.
CHAMP는 정밀한 부품 치수 측정과 품질 관리를 위한 고성능 접촉식 3차원 측정기로, 자동차, 방위산업, 우주항공 등 다양한 산업 현장에서 활용됩니다. 사용자의 요구에 따라 다양한 크기와 사양으로 제공되며, 독자적인 하드웨어·소프트웨어 기술을 바탕으로 뛰어난 정확도와 신뢰성을 자랑합니다. 자동화된 검사 환경에도 최적화되어 있어 생산성 향상과 품질 혁신을 동시에 실현할 수 있습니다.