엔티에스는 반도체 테스트의 핵심 부품인 Probe Pin을 직접 생산하며 고정밀·고신뢰성의 성능으로 다양한 반도체 칩의 전기적 특성을 정밀하게 검사할 수 있도록 지원합니다. 자체 제조시설 기반으로 고객 맞춤형 설계와 빠른 공급이 가능하며 국내외 대기업에 활발히 공급되고 있습니다.
비메모리 반도체 후공정(Wafer Test 및 Final Test)에 사용되는 MEGATOUCH Probe Pin은 미세 피치 대응 설계와 정밀 가공 기술이 집약된 핵심 검사 부품입니다. 높은 신뢰성과 반복 접촉 성능으로 글로벌 반도체 제조사의 품질 기준을 만족시키며 다양한 패키징 및 웨이퍼 검사 환경에서 폭넓게 활용됩니다.