UNIS 환경시험기는 온도, 습도, 진동 등 다양한 환경 조건을 정밀하게 재현하여 전자부품, 반도체, 소재의 내구성과 신뢰성을 평가할 수 있는 첨단 시험 장비입니다. 자동화 제어 시스템과 정밀 센서를 탑재하여 반복성 높은 테스트 환경을 제공하며, 고객 맞춤형 사양 설계가 가능합니다. 품질 보증 및 신제품 개발에 필수적인 솔루션으로, 국내외 다수의 산업 현장에서 활용되고 있습니다.
최첨단 반도체 칩 및 웨이퍼 검사 공정에서 사용되는 Vertical Probe Card는 미세피치(40μm 이하) 대응이 가능한 고정밀 전자부품 테스트 장비로, 집적회로(IC)의 불량 검출과 품질 관리를 위한 핵심 솔루션입니다. 다양한 반도체 패키지와 공정 환경에 맞춰 설계되며, 신뢰성 높은 접촉성과 내구성을 바탕으로 대량 생산 라인에서도 안정적인 성능을 제공합니다.