자동결함분석 제품/서비스 검색 결과 : 1건

아카이브	제품/서비스명	기업명	태그	설명
	Park Wafer Series	(주)파크시스템	반도체검사자동결함분석표면거칠기생산자동화HDD제조	Park Wafer Series는 반도체 전 공정 및 하드디스크 제조 분야에서 자동 결함 검사와 표면 거칠기 측정을 위한 전자동 원자현미경 시리즈입니다. 고속, 고정밀의 자동화 계측을 통해 생산 효율성과 품질 신뢰성을 극대화하며, 글로벌 반도체 및 데이터 스토리지 제조사에서 널리 사용되고 있습니다.

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