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인라인검사
제품/서비스 검색 결과 :
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설명
Park Wafer Series (자동화 웨이퍼 검사용 원자현미경)
파크시스템스(주)
웨이퍼검사
반도체계측
자동화장비
인라인검사
품질관리
Park Wafer Series는 반도체 웨이퍼의 자동 결함 검사와 표면 특성 분석을 위한 전자동 원자현미경(AFM)입니다. 대형 웨이퍼(최대 300mm)까지 신속하고 반복 가능한 측정이 가능하며, 생산라인 인라인 계측에 최적화되어 있습니다. 반도체 제조 현장에서 품질 관리와 공정 최적화에 필수적인 첨단 계측 솔루션입니다.
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