Park NX-Hivac은 반도체 및 소재 결함 분석을 위한 고진공 환경의 첨단 원자현미경(AFM)입니다. 초고해상도 이미징과 정밀한 표면 분석이 가능하며, 나노미터 단위의 미세 결함까지 검출할 수 있어 반도체 공정, 재료과학, 나노기술 연구에 최적화된 솔루션을 제공합니다. 자동화 기능과 사용자 친화적 인터페이스로 연구 효율성과 데이터 신뢰성을 극대화합니다.
Park Wafer Series는 반도체 웨이퍼의 자동 결함 검사와 표면 특성 분석을 위한 전자동 원자현미경(AFM)입니다. 대형 웨이퍼(최대 300mm)까지 신속하고 반복 가능한 측정이 가능하며, 생산라인 인라인 계측에 최적화되어 있습니다. 반도체 제조 현장에서 품질 관리와 공정 최적화에 필수적인 첨단 계측 솔루션입니다.
Park Wafer Series는 반도체 전 공정 및 하드디스크 제조 분야에서 자동 결함 검사와 표면 거칠기 측정을 위한 전자동 원자현미경 시리즈입니다. 고속, 고정밀의 자동화 계측을 통해 생산 효율성과 품질 신뢰성을 극대화하며, 글로벌 반도체 및 데이터 스토리지 제조사에서 널리 사용되고 있습니다.
Park NX10은 검증된 정확성과 사용자 편의성을 갖춘 연구용 원자현미경(Atomic Force Microscope, AFM)입니다. 나노미터 수준의 표면 형상 및 물성 분석이 가능하며, 자동화된 소프트웨어와 혁신적 기술을 적용해 반도체, 재료과학, 생명과학 등 다양한 연구 분야에서 신뢰할 수 있는 고해상도 이미징과 정밀 계측을 제공합니다. 사용자는 직관적인 인터페이스를 통해 복잡한 나노구조 분석을 손쉽게 수행할 수 있습니다.
