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 비메모리반도체후공정  제품/서비스 검색 결과 : 1건

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반도체 TEST PROBE PIN (MEGATOUCH Probe Pin)(주)메가터치
반도체검사장비프로브핀비메모리반도체후공정웨이퍼테스트첨단소재부품
비메모리 반도체 후공정(Wafer Test 및 Final Test)에 사용되는 MEGATOUCH Probe Pin은 미세 피치 대응 설계와 정밀 가공 기술이 집약된 핵심 검사 부품입니다. 높은 신뢰성과 반복 접촉 성능으로 글로벌 반도체 제조사의 품질 기준을 만족시키며 다양한 패키징 및 웨이퍼 검사 환경에서 폭넓게 활용됩니다.
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