DDR5용 Burn-In Tester는 차세대 고속 메모리 반도체의 내구성과 신뢰성을 극한 환경에서 반복적으로 검증하는 첨단 검사장비입니다. 고온·고전압 조건에서 초기 불량을 선별하며, 대용량 병렬 테스트와 정밀 신호 처리가 가능해 메모리 제조사의 생산 효율과 품질 향상에 기여합니다. DDR5, HBM 등 최신 메모리 반도체에 최적화된 설계로, AI 반도체 시장의 고도화된 요구에도 대응합니다.
HBM3E Wafer Tester는 고대역폭메모리(HBM) 생산 공정에서 웨이퍼 단위의 전기적 특성과 품질을 정밀하게 검사하는 첨단 장비입니다. 최신 HBM3E 규격을 지원하며, 대용량 데이터 처리와 고속 신호 측정이 가능해 차세대 AI·고성능 컴퓨팅용 메모리 생산에 필수적입니다. SK하이닉스 등 글로벌 반도체 기업에 공급되어 신뢰성과 생산성 향상에 기여합니다.
메모리 및 로직 반도체의 번인 테스트를 위한 전용 보드로, 다양한 패키지와 인터페이스를 지원합니다. 고온·고전압 환경에서의 안정적인 신호 전달과 내구성을 보장하며, 대량 생산 환경에서도 일관된 품질을 유지할 수 있도록 설계되었습니다. 번인 시스템과의 완벽한 호환성을 자랑합니다.
ITNT Memory Semiconductor ATE는 메모리 반도체의 신뢰성과 성능을 정밀하게 평가할 수 있는 첨단 자동화 검사 장비입니다. 자체 개발한 하드웨어와 소프트웨어 기술을 기반으로, 다양한 메모리 반도체 제품의 품질을 신속하고 정확하게 검증할 수 있으며, 생산 효율성과 테스트 자동화를 극대화하여 글로벌 반도체 제조사의 요구에 최적화된 솔루션을 제공합니다.
유정시스템의 메모리 및 스토리지 반도체 시험 장비는 스마트폰, 태블릿 등 실제 사용 환경과 유사한 조건에서 반도체 디바이스의 품질을 사전 검증합니다. 다양한 IoT 및 모바일 디바이스에 적용되는 메모리의 신뢰성, 내구성, 성능을 정밀하게 평가할 수 있으며, 고객 맞춤형 시스템 통합과 솔루션 제공을 통해 글로벌 반도체 시장의 품질 기준을 충족합니다.
