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Imaging Spectroscopic Ellipsometer는 박막의 두께, 굴절률 등 다양한 광학 특성을 고정밀로 측정할 수 있는 첨단 계측장비입니다. 엘립소메트리와 현미경 기술을 결합해 반도체, 디스플레이, 소재 연구 등에서 미세구조 분석과 품질 평가에 활용됩니다. 다양한 샘플 크기와 형태에 대응하며, 신뢰성 높은 데이터 제공으로 연구 및 생산 현장의 혁신을 지원합니다.