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HBM3E Wafer Tester는 고대역폭메모리(HBM) 생산 공정에서 웨이퍼 단위의 전기적 특성과 품질을 정밀하게 검사하는 첨단 장비입니다. 최신 HBM3E 규격을 지원하며, 대용량 데이터 처리와 고속 신호 측정이 가능해 차세대 AI·고성능 컴퓨팅용 메모리 생산에 필수적입니다. SK하이닉스 등 글로벌 반도체 기업에 공급되어 신뢰성과 생산성 향상에 기여합니다.

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DDR5 PKG Burn-in Tester는 차세대 DDR5 메모리 패키지의 내구성과 신뢰성을 검증하는 자동화 검사장비입니다. 고온·고전압 환경에서 장시간 동작 테스트를 수행해 불량률을 최소화하고, 대량 생산 라인에 최적화된 설계로 생산 효율을 극대화합니다. 첨단 반도체 패키지 품질 보증에 필수적인 솔루션입니다.

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HBM4 Wafer Tester는 차세대 고대역폭메모리(HBM4) 생산을 위한 웨이퍼 검사장비로, 업계 최고 수준의 신호 처리 속도와 정밀도를 제공합니다. 현재 개발 막바지 단계로, 연내 테스트 통과 및 상용화가 기대됩니다. 미래 AI 및 고성능 서버 시장을 겨냥한 혁신적 검사 솔루션입니다.

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