ITNT Memory Semiconductor ATE는 메모리 반도체의 신뢰성과 성능을 정밀하게 평가할 수 있는 첨단 자동화 검사 장비입니다. 자체 개발한 하드웨어와 소프트웨어 기술을 기반으로, 다양한 메모리 반도체 제품의 품질을 신속하고 정확하게 검증할 수 있으며, 생산 효율성과 테스트 자동화를 극대화하여 글로벌 반도체 제조사의 요구에 최적화된 솔루션을 제공합니다.
MT6133 Memory Wafer Tester는 DRAM, 3D-NAND 등 첨단 메모리 반도체의 전공정 웨이퍼를 대상으로 고속·고정밀 전수 검사를 수행하는 최첨단 반도체 검사장비입니다. 칩의 불량 정보를 정확하게 취득·분석하여 반도체 품질과 수율을 극대화하며, 대용량 데이터 처리와 자동화 기능을 통해 글로벌 메모리 제조사의 생산 효율을 혁신적으로 향상시킵니다. 세계 3대 메모리 웨이퍼 테스터로 인정받는 독보적 기술력과 신뢰성을 자랑합니다.
EXICON DRAM Memory Tester는 DDR2부터 DDR5, LPDDR5, GDDR6 등 최신 DRAM 제품의 성능과 신뢰성을 평가하는 고성능 테스트 장비입니다. 대용량 전류 공급 및 발열 제어 기능을 갖춘 번인(Burn-in) 테스트 솔루션을 제공하여, 고집적·고속화된 차세대 메모리 반도체의 품질을 보장합니다. 삼성전자 등 글로벌 메모리 제조사에 납품되며, 국내 최초로 DRAM 테스터 국산화에 성공한 제품입니다.
ITNT Non-Memory Semiconductor ATE는 시스템 LSI 등 비메모리 반도체의 기능 및 성능 검증을 위한 고성능 자동화 테스트 장비입니다. 다양한 반도체 제품군에 적용 가능한 유연한 설계와 고도의 측정 정확도를 제공하며, 고객 맞춤형 테스트 환경 구현이 가능해 반도체 산업의 품질 혁신과 생산성 향상에 기여합니다.
삼성전자와 SK하이닉스 등 국내 대표 반도체 기업에 공급되는 Nand Memory 검사장비는 리빙케어만의 정밀 온도제어 기술이 적용되어 메모리 칩 생산 과정에서 품질 검증을 극대화합니다. 첨단 센서와 자동화 기능을 갖춘 이 장비는 생산 효율성과 불량률 감소를 동시에 실현하며, 글로벌 스탠다드에 부합하는 신뢰성을 제공합니다.
HBM(Test Socket for High Bandwidth Memory)은 최신 AI·빅데이터 시대의 핵심 메모리인 HBM(Hight Bandwidth Memory) 모듈을 위한 전문 검사 장비로서 대량 데이터 처리와 높은 수율 확보를 위해 필수적인 첨단 부품입니다. ISC는 HBM 파이널 검사 공정을 선제적으로 지원하며 국내외 주요 메모리 제조사에 공급하고 있습니다.
메모리 및 로직 반도체의 번인 테스트를 위한 전용 보드로, 다양한 패키지와 인터페이스를 지원합니다. 고온·고전압 환경에서의 안정적인 신호 전달과 내구성을 보장하며, 대량 생산 환경에서도 일관된 품질을 유지할 수 있도록 설계되었습니다. 번인 시스템과의 완벽한 호환성을 자랑합니다.
최첨단 서버 시스템에 최적화된 R-DIMM(Registered Dual In-line Memory Module) PCB는 고다층·고밀도 설계와 레이저 드릴 빌드업 등 특수 공법을 적용하여 뛰어난 신호 무결성과 내구성을 자랑합니다. 글로벌 반도체 기업의 까다로운 품질 기준을 충족하며, 대용량 데이터 처리 및 안정적인 서버 운영에 필수적인 핵심 부품입니다.
MT6122는 DRAM, NAND Flash 등 다양한 메모리 반도체 웨이퍼의 불량 여부를 고속·고정밀로 판별하는 첨단 메모리 웨이퍼 테스터입니다. 전공정을 마친 웨이퍼를 셀 단위로 전수 검사하여 칩의 품질과 생산 효율성을 극대화하며, 대용량 데이터 처리와 AI 기반 분석 기능을 탑재해 차세대 반도체 제조 환경에 최적화된 솔루션을 제공합니다. 삼성전자 등 글로벌 주요 고객사에 공급되며, 국내외 시장에서 높은 신뢰도를 확보하고 있습니다.
