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3D MEMS Probe Card
3D MEMS Probe Card는 첨단 마이크로 전자기계 시스템(MEMS) 기술을 기반으로 개발된 반도체 검사용 인터페이스 장치입니다. 이 제품은 반도체 전공정이 완료된 칩의 전기적 특성을 정밀하게 검사할 수 있도록 설계되어, 칩 내부 전기소자와 테스터를 연결해 고속(500MHz 이상) 신호 처리와 불량 칩 선별을 지원합니다. 고신뢰성, 고정밀, 대량 생산에 최적화되어 있으며, 반도체 산업의 품질 향상과 생산성 증대에 기여합니다.

재무 정보와 기술 경쟁력, 연구 협력 현황까지. 통합된 데이터 분석으로 한층 더 신뢰할 수 있는 판단을 지원합니다.

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