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MEMS Probe Card
AMST는 세계 최초로 MEMS(미세전자기계시스템) 기술을 적용한 Probe Card를 개발하여, 반도체 웨이퍼 테스트의 정밀도와 신뢰성을 극대화합니다. 이 제품은 미세 회로의 전기적 특성을 고속·고정밀로 검사할 수 있어, 첨단 반도체 제조 공정의 품질 향상과 생산성 증대에 기여합니다. 다양한 반도체 칩 구조에 맞춘 맞춤형 설계와 내구성, 반복 사용이 가능한 구조로 글로벌 반도체 테스트 시장에서 경쟁력을 인정받고 있습니다.

재무 정보와 기술 경쟁력, 연구 협력 현황까지. 통합된 데이터 분석으로 한층 더 신뢰할 수 있는 판단을 지원합니다.

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