마이크로인스펙션(주)
Inspection excellence: where quality meets precision.
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COF Leakage Tester는 평판디스플레이(FPD) 제조 공정에서 COF(Chip On Film) 전극 패턴의 오픈/쇼트(Open/Short) 불량 및 누설(Leakage) 불량을 전기적으로 정밀하게 검사하는 장비입니다. Cross Impedance 비교 측정방식을 적용하여 미세한 결함까지 빠르고 정확하게 검출하며, 생산 효율성과 품질 관리를 극대화할 수 있습니다. FPD 및 반도체 패키징 라인에 최적화된 솔루션으로 신뢰성 높은 품질 보증을 지원합니다.
재무 정보와 기술 경쟁력, 연구 협력 현황까지. 통합된 데이터 분석으로 한층 더 신뢰할 수 있는 판단을 지원합니다.
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