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DDR5용 Burn-In Tester는 차세대 고속 메모리 반도체의 내구성과 신뢰성을 극한 환경에서 반복적으로 검증하는 첨단 검사장비입니다. 고온·고전압 조건에서 초기 불량을 선별하며, 대용량 병렬 테스트와 정밀 신호 처리가 가능해 메모리 제조사의 생산 효율과 품질 향상에 기여합니다. DDR5, HBM 등 최신 메모리 반도체에 최적화된 설계로, AI 반도체 시장의 고도화된 요구에도 대응합니다.

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• DDR5
• 메모리테스트
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Burn-In Board는 DRAM, NAND 등 다양한 메모리 및 비메모리 반도체의 신뢰성 검증을 위한 맞춤형 테스트 기판입니다. 고객의 요구에 따라 다양한 설계와 사양으로 제작되며, 고밀도 실장과 효율적인 테스트 환경을 제공합니다. 초기 불량 검출과 제품 수율 향상에 필수적인 핵심 부품입니다.

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Multi Flexible Tester는 다양한 반도체 디바이스(Logic, SoC, CIS 등)에 대응 가능한 다기능 검사장비로, 고속 테스트와 다채널 입출력, 온도 환경 제어 등 유연한 테스트 환경을 제공합니다. 확장된 채널수와 ALPG 기능을 통해 복잡한 반도체의 품질과 내구성 검증에 최적화되어 있습니다.

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