(주)쎄크

X-eye 5000N Series는 반도체, 배터리, 전자부품 등 첨단 산업 분야에서 제품 내부의 미세 결함을 비파괴 방식으로 고속·고정밀로 검사할 수 있는 산업용 X-ray 검사장비입니다. 자체 개발한 X-ray 소스와 고해상도 디텍터를 탑재하여, 200나노미터급 초미세 결함까지 탐지 가능하며, 자동화된 검사 공정과 AI 기반 딥러닝 알고리즘을 적용해 생산성과 신뢰성을 극대화합니다. 글로벌 반도체 및 배터리 제조사의 품질 관리 표준으로 채택되고 있습니다.

• 산업용 X-ray
• 반도체 검사
• 배터리 검사
• 비파괴 검사
• 자동화 검사

X-eye PCT450은 3D CT(Computed Tomography) 기술을 적용한 고속·고정밀 X-ray 검사장비로, 제품 내부 구조를 3차원 영상으로 구현하여 미세 결함을 정밀하게 분석할 수 있습니다. 4초 이내의 초고속 3D 스캔이 가능하며, 생산 라인 인라인 적용으로 대량 생산 환경에서도 실시간 품질 관리를 지원합니다. 반도체, 2차전지, 전기차 부품 등 다양한 산업에서 신뢰성 높은 검사 솔루션을 제공합니다.

• 3D CT
• 인라인 검사
• 초고속 스캔
• 품질관리
• 전기차 부품

SNE-4500M Plus는 소형·탁상형 주사전자현미경(SEM)으로, 다양한 소재의 표면 구조와 미세 결함을 고해상도로 관찰·분석할 수 있는 장비입니다. 간편한 조작과 빠른 분석 속도를 제공하며, 반도체 패키지, 소재 연구, 전자부품 등 다양한 분야에서 시료의 미세 구조 분석 및 품질 평가에 활용됩니다. 연구개발 및 생산 현장에서 신속하고 정확한 분석을 지원합니다.

• 주사전자현미경
• SEM
• 소재분석
• 미세구조
• 연구개발